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主要介绍现场可编程阵列FPGA在NANDFI。ASH芯片测试仪系统中的应用，由于芯片本身内部结构非常复杂，还可以允许坏块的存在，而且坏块的数目在使用过程中还可以增加，这使得对芯片进行操作变得非常难，而利用FPGA对NANDFLASH进行控制，可以非常方便地对他进行读写、擦除以及坏块判断等几种重要的操作，从而能快捷、准确、稳定地测试出芯片的好坏，为NAND FLASH厂商和用户提供更为准确的判断依据。