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对时延故障测试提出了一种采用累加器实现测试序列生成的方案。该方案通过对累加器作可测性设计，并复用其硬件电路，所生成的测试序列具有单个位跳变特性。已有的理论和实验结果都表明这种单跳变测试序列在时延故障测试中具有比多跳变序列更高的强健故障覆盖率。同以往方法相比，该方案主要特点是具有更低的硬件成本，同时，产生所有单跳变向量的时间也接近理论最小值。由于该方案对系统累加器的复用而减少了对系统的性能开销，可有效的用于强健时延故障内建自测试的测试序列生成。