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提出了一种利用激光散斑表征磁流体显示器件光学性能的方法。阐述了磁流体显示器件的工作机理及显示过程中磁微粒的运动过程，将其运动模型简化为简单的几何模型，利用散斑相关方法测量了磁微粒的堆积过程；同时，利用散斑图平均对比度方法研究了磁流体薄膜表面形貌的变化过程。实验结果表明：激光散斑方法是一种表征磁流体显示器件光学性能的有效手段。