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采用局域密度泛函理论和第一性原理的方法，计算四方结构和六角结构硅酸锌的平衡品格常数、电子态密度和能带结构。计算结果表明，四方结构硅酸锌的平衡晶格常数为0．71048nm，六角结构为1．40877nm，两者与实验值的误差均在1％左右。态密度图显示，主要电子态分布在-7．18～0．00ev和2．79～10．50eV两个能量区域；同时，不同元素电子对导带和价带有不同贡献，其中氧的P态电子对价带顶贡献最大，锌的s态电子对导带底贡献最大。能带计算表明，四方与六角结构硅酸锌均为直接带隙半导体，禁带宽度分别为2．66，