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利用X-射线粉末衍射技术和Rietveld结构修正方法对LaAlSi的粉末衍射数据进行了研究，井得到了其X-射线粉末衍射数据。化合物LaAlSi具有α-ThSi2结构类型，空间群为I4 1／amd（No．141），Z=4。点阵参数为a=0．42245（1）nm，c=1．45204（2）nm，衍射峰指标化的可靠性因子F30=211.4（35）。用Rietveld结构修正方法对该化合物晶体结构进行了精化修正，拟合结果为Rp=0．099和Rwp=0．133。