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为了实现低相噪的本振信号输出，本文设计出一种基于锁相环芯片ADF4106的低相噪本振源。通过实际调试，测试结果满足设计要求，并作为第二点频本振应用于一款通信测试仪器的中。
基于ADF4106的低相噪本振设计
【摘 要】
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为了实现低相噪的本振信号输出，本文设计出一种基于锁相环芯片ADF4106的低相噪本振源。通过实际调试，测试结果满足设计要求，并作为第二点频本振应用于一款通信测试仪器的中。
【机 构】
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中国电子科技集团公司第41研究所研发1部,电子信息测试技术安徽省重点实验室
【出 处】
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电子产品世界
【发表日期】
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2017年6期
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