电子束蒸发二氧化硅薄膜在Si/Si1—XGexHBT中的应用研究

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:chao19890103
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本文介绍了电子束蒸发二氧化硅薄膜的工艺方法,影响蒸发二氧化硅薄膜质量的因素,以及用于Si/Si1-xGexHBT的结果。
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