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本文探讨了无损数据压缩技术在存储测试系统中的应用.通过对几种常用的无损数据压缩方法比较,验证了LZW算法在存储测试系统中应用的可行性,给出了LZW算法的基本思想及改进方法,并研究了利用VHDL及FPGA实现硬件压缩的可行性,并且实践验证了LZW算法在存储测试系统中具有较好的压缩效果.因此用FPGA实现无损数据压缩可以获得较高的速率,适合在存储测试系统以及微型数据采集系统中应用.