K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量

来源 :云南冶金 | 被引量 : 0次 | 上传用户：rfy68213919

【摘要】

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采用X射线K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量，结果表明，使用X射线K值法对工业硅粉中二氧化硅进行定量相分析，可计算得出工业硅粉中二氧化硅的含量，能对工业硅粉中硅石掺假现象进

【作者】

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高珺胡耀东

【机构】

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昆明冶金研究院

【出处】

：

云南冶金

【发表日期】

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2017年6期

【关键词】

：

X射线衍射 K值法工业硅粉二氧化硅 X-ray diffraction K-value method industrial silicon silic

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采用X射线K值法测定工业硅粉中二氧化硅的含量，结果表明，使用X射线K值法对工业硅粉中二氧化硅进行定量相分析，可计算得出工业硅粉中二氧化硅的含量，能对工业硅粉中硅石掺假现象进行监督防治，是一种切实有效的检测方法。

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