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本文定量地讨论了光致离解过程对测量多原子负离子的光致分离截面的影响.并提出了同时测量负离子的光致分离截面、光致离解截面以及碎片的光致分离截面的可能性.
负离子光致分离实验中多过程问题的讨论
【摘 要】
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本文定量地讨论了光致离解过程对测量多原子负离子的光致分离截面的影响.并提出了同时测量负离子的光致分离截面、光致离解截面以及碎片的光致分离截面的可能性.
【机 构】
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中国科学院安徽光学精密机械研究所德拉华州立大学物理系
【出 处】
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光学学报
【发表日期】
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1990年10期
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根据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法，研究了薄膜材料的厚度、实际测量中的噪声、特殊入射角三个因素对薄膜参数测量精度的影响。对SiO2薄膜样品进行数值模拟分析，结果表明，薄膜厚度大于150 nm时的反演误差较小，50 nm以下的薄膜反演误差较大；噪声越小测量精度越高；SiO2薄膜存在特殊的入射角，该角选为初始入射角将出现较大误差甚至错误，测量时应避开。若初始入射角的选取偏离特殊角±2°，即可消除特殊点所带来的影响。
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The prominent third-order nonlinear optical properties of
期刊
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期刊
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