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根据电化学理论分析片式膜固定电阻器导电层金属银层的腐蚀反应过程及电极电位对膜层腐蚀的机理及影响情况。并结合电阻器实际失效案例,对一只出现阻值增大的电阻器样品通过扫描电子显微镜(SEM)观察微观形貌,查找异常物质并通过能谱对异常点进行成分检测,确定其为硫化银,进一步了解了电阻器硫化失效的表现形式及产生特点。