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存储测试的主要特点是测试仪器置于被测对象内部或被测环境中实时地获取动态参数,为了减小测试仪器对被测对象的影响,需要减小试仪器的体积,实现测试仪器的微型化.针对存储测试仪器的微型化需求,提出利用SoC系统集成、模块化结构等技术,将数字电路的ADC模块、控制模块、存储模块、接口模块等集成在专用SoC芯片中,同时,将测试电路分为模拟电路、SoC数字电路、电池等模块,立体封装在机械壳体里,设计并实现了微型化的动态参数记录仪.基于SoC的微型化动态参数记录仪体积约10cm^3,可以嵌入被测体内或者置人被测环境中,实