一种用于确定某些金属氧化物化学位移的新方法

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本文报导了我们在离子感生俄歇电子发射机制研究的基础上,在确定某些氧化物的原子内层化学位移方面所做的工作。从实验上和理论上讨论了离子轰击下,表面上产生的不同于电子激发的俄歇跃迁,提出了用离子感生俄歇确定氧化物中原子内层化学位移的方法,并测得了Al_2O_3、SiO_2和MgO中原子内层的化学位移值,与XPS的测定值相吻合。 This article reports our work on the determination of the chemical shift of the atoms in some oxides based on the ion-induced Auger electron emission. The ionospheric Auger transition is studied experimentally and theoretically under ion bombardment, which is different from the electron excitation. The ion-induced Auger chemistry is used to determine the atomic chemical shift in the oxide. The effects of Al 2 O 3, The chemical shift values ​​of the inner layers of SiO 2 and MgO coincide with those of XPS.
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