基于CT优化工艺参数的断路器缺陷检测研究

来源 :电力科学与工程 | 被引量 : 2次 | 上传用户:anyok1979
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为准确判断出35 kV断路器内部缺陷故障类型,引入了一种基于计算机断层成像技术(computed tomography,CT)的电力设备检测方法。针对工业CT系统的相关工艺参数采用控制变量法设计对比试验进行优化研究,得到了射线源电压、射线源电流、投影幅数、滤波片厚度、机械系统参数、焦点尺寸和探元尺寸对CT断层图像质量的影响规律,得出工业CT检测的一组最佳检测工艺参数组合。利用最佳组合参数以及各参数影响规律,对得到的断层图像进行三维立体重建,成功判断出35 kV断路器内部断裂缺陷出现位置及其缺陷尺寸,
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