论文部分内容阅读
用射频磁控溅射双靶交替淀积的方法在p—Si(100)衬底上制备了Ge/SiO2薄膜,利用Au/Ge/SiO2/p—Si结构的I—V特性曲线研究了该结构的电流输运机制.分析表明,在较低的正向偏压和反向偏压下,电流输运机制分别为Schottky发射和欧姆输运电流;而在较高的正向偏压下,Frenkel-Poole发射和空间电荷限制电流两种机制共同作用.