Hg1—xCdxTe多层薄膜材料结构缺陷的透射电子显微镜测定

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用透射电镜对Hg1-xCdTe/CdTe和CdTe/GaAs两种异质结的横截面进行了观测分析,对异质结附近的某些结构缺陷,如微孪晶的尺寸,几何形态、层错、界面失配位错的组态特征进行了研究,并对多层膜之间的取向差进行了分析,说明在GaAs衬底上用分子束外延法制备的Hg1-xCdxTe/CdTe/GaAs多层膜,就大量结构缺陷而言,CdTe缓冲层对Hg1-xCdxTe外延层起到了屏障作用,在Hg1-x
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