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针对辐射环境下电路板检测对芯片进行定位的情况,提出基于图像分割的芯片定位算法。该算法首先通过人机交互选择待检测芯片并设定初始种子点;其次根据初始种子点进行SLIC超像素合并获得芯片的初始轮廓;再次利用One Cut分割出芯片的环形边缘;最后通过矩形拟合矫正芯片轮廓并获得芯片坐标信息。解决了大尺度的超像素在进行区域合并时,孔洞和断连区域以及跨边缘的超像素导致的轮廓提取不理想的问题。实验结果表明仅需很少的人机交互,可以有效提高图像分割质量,且定位精度在5pixel以内,响应时间在0.8s以内,满足电路板