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使用X射线光电子能谱（XPS）和扫描电子显微镜（SEM）等表面分析方法，研究未启封、使用过失失效和使用过失效的继电器触点表面和形貌、组份和结构，结构表明，经过使用后触点表面烧蚀严重并发生磨损，其组份中含Ag、Sn、C和O等原子，C和O的XPS峰显示，触点表面氧化膜和碳化物的形成，导致接触电阻增大，从而影响继电器的稳定履使用寿命。