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利用低温扫描隧道显策镜对Ｓｉ（１１１）－７×７表面的孤立Ｃ６０分子成像，结合局域密度泛函数方法计算，确定了Ｃ６０在不同吸附位置的分子取向，同时进行了扫描隧道谱揭示了Ｃ６０吸附后的局域电子态。
Si（111）—7×7表面孤立C60分子的吸附取向及局域电子态研究
【摘 要】
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利用低温扫描隧道显策镜对Ｓｉ（１１１）－７×７表面的孤立Ｃ６０分子成像，结合局域密度泛函数方法计算，确定了Ｃ６０在不同吸附位置的分子取向，同时进行了扫描隧道谱揭示了Ｃ６０吸附后的局域电子态。
【机 构】
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中国科学院结构分析开放研究实验室中国科学技术大学理化科,中国科学院结构分析开放研究实验室中国科学技术大
【出 处】
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物理
【发表日期】
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2000年7期
【基金项目】
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国家自然科学基金
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