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提出一种基于Facebook开源的Prophet预测模型进行电离层TEC异常识别的新方法。首先,对比分析了该方法与传统时间序列预测方法(ARIMA模型等)预测电离层TEC建模背景值的精度,以及与经典电离层TEC异常识别方法(滑动四分位法)提取前面对应一致的电离层TEC背景值的精度。结果表明, Prophet预测模型预测建模背景值的精度要明显优于其他方法,且预测的建模精度比ARIMA模型等方法高2.55倍左右,比滑动四分位法高10.74倍左右。同时,在最佳预测建模区间时,其精度值大小比较依次为RMSE