论文部分内容阅读
介绍了具有定量化测量能力的硬X光弯晶谱仪的结构，利用Mo靶x光管的K特征线作为标定源．使用绝对标定过的Si（Li）探测器对X光管出射的特征线谱进行强度和谱测量。结合x光管空间分布均匀的特点，计算进入弯晶谱仪的光子数目，采取了特征谱扣去轫致谱的计数处理方法，得到了17keV和19keY处弯晶谱仪的绝对效率，分别为4．32×10-4和3．94×10-4。