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提出了把液晶波片作为电控补偿器，使用偏光显微镜的白光照射条件下测试液晶器件光程差二维分布的方法，建立了液晶器件在正交偏光下测试二维光程差分布的验证系统。使用该系统测试了液晶电控波片的光程差分布，将测试数据与传统的1/4波片法的测试结果进行了标定，误差在3%以内。在此基础上，使用上述系统完成了液晶光楔、紫外光寻址的透过式液晶空间光调制器二维光程差分布的测试，得到了二者的电控二维光程差分布规律。该方法的进一步优化，还可以用于液晶光学相控阵列的测试。研究意义在于，可以用偏光显微镜自带的白光照明系统来测试电控液晶器件在多个波长，包括近红外波段下光程差二维分布的显微结构，用于液晶光学相控阵列的驱动电压非线性校正、相位凹陷与回程区检测，还可用于液晶空间光调制器的光学寻址伽马校正等方面。