论文部分内容阅读
硬盘的磁碟是数据存储的介质，表面是否有划伤及严重程度直接决定了该盘片的存储密度和范围及是否能达到设计容量的要求，表面划伤相关的失效是硬盘产品生产中十分关键的一个指标．文章运用六西格玛的DMA IC改善流程来改进硬盘存储介质表面缺陷率。通过对划伤问题的定义、测量，分析测量结果并对潜在的根本性原因进行分析，找到关键因素实施改进并应用到实际生产过程中。通过对垫片回用物料进行控制和停止使用DUFU供应商的当前到货的垫片，从而减少了磁碟介质表面划伤问题相关的失效，使缺陷率相对降低了70％，达到了预期的目标。