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从薄膜光学理论出发，对不同金属膜厚度、不同实折射率和不同复介电常数的环境介质的表面等离激元共振（SPR，Surface Plasmon Resonance）信号进行了分析，给出了最佳金属膜厚度，并且，折射率与共振角呈线性关系（R=0．9994）．分析了采用差分处理时，随环境介质的复介电常数变化的光反射率曲线．结果表明，同组两个探测器信号的和随环境介电常数的虚部变化，与实部无关，其信号差则相反，因此，能够同时测量环境介质的介电常数的实部和虚部．