后退火对C/CoCrPt/Ti颗粒膜的微结构和磁特性的影响

来源 :河北师范大学学报(自然科学版) | 被引量 : 0次 | 上传用户:lancer523
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在室温下,采用射频溅射模式和直流对靶溅射模式制备了C(60 nm)/CoCrPt(30 nm)/Ti(60 nm)系列薄膜.样品在高真空条件下进行30 min后退火,退火温度分别为RT(室温),300,500,600℃.研究表明,后退火处理对样品的微结构和磁特性有很大的影响.VSM测量结果显示,当ta=300℃时,垂直膜面矫顽力达到最大(131kA/m);扫描探针显微镜(SPM)观察结果显示,样品的平均粒径最小为9.6 nm.
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