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高速高精度机型.具有MAP显示功能,主要适用于半导体分立元件,光电元件的自动中测,可遮光测试,具有MAP显示功能.它与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试.
TZ-603P型自动探针测试台
【摘 要】
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高速高精度机型.具有MAP显示功能,主要适用于半导体分立元件,光电元件的自动中测,可遮光测试,具有MAP显示功能.它与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功
【出 处】
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电子元器件资讯
【发表日期】
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2009年3期
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