用于三维显示的全息压缩技术概述

来源 :激光与光电子学进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:koalaz
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全息技术的应用使得三维显示发展迅速,给人们带来了无与伦比的视觉体验。全息图像、视频的计算和生成过程会产生庞大的数据,这给传输和存储带来了很大困难。为了满足3D显示的高清晰度和实时性要求,全息数据的压缩显得十分重要。由于全息图像与普通图像相比有着截然不同的特性,因此使用现有压缩技术难以达到最佳效果。介绍了全息压缩主要的技术问题,总结了全息数据压缩常用的度量,具体讨论了各国研究团体所提出的全息图像编码量化处理、变换系数化简、全息图国际标准格式优化和新型标准框架开发等前沿技术,并详述了它们各自的优劣,最后
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针对激光通信捕获、跟踪、瞄准系统对光斑位置检测精度的需求,提出了基于互补金属氧化物半导体探测器的光斑位置检测精度评价方法,并用此方法量化了常用的滤波算法对光斑位置检测精度的影响。利用高精度位移平台测试相机的随机误差和系统误差,分别采用中值滤波、均值滤波、高通滤波、形态学滤波对光斑图像进行处理,并计算滤波后光斑的质心位置,比较滤波前后光斑位置的检测精度,评价滤波算法对位置检测的影响。实验表明,滤波会
设计了一种单时钟域内低级展开、高级折叠的多级离散小波变换架构;采用横向三输入扫描方式,基于9/7离散小波变换提升算法,设计第1级离散小波变换模块;根据第2级离散小波变换的时钟周期与有效输入数据之比,设计半折叠的第2级离散小波变换模块;将第3级及更高级的离散小波变换的架构折叠到第2级离散小波变换架构上,从而降低了硬件资源的消耗。结果表明:对于大小为512 pixel×512 pixel的经3级离散小
为了解决不同厚度下平行平晶的多表面干涉效应对光学元件面形检测的影响,提出了基于波长移相调谐原理的多表面干涉面形检测方法。根据波长移相调谐原理,推算出不同厚度下被测元件与测试腔长的比例关系,通过对多表面干涉图进行离散傅里叶变换,进而提取出平行平晶前后表面面形的相位信息。实验结果表明: 与ZYGO公司GPI干涉仪测量结果对比,厚度分别为10 mm和40 mm的两块平行平晶,测试结果偏差很小,验证了算法的有效性。
现在,西德的公司生产许多激光器和与激光器有关的产品,某些方面,例如准分子激光器和氦氖激光器等产品,在世界上还属先进之列。虽然西德有大约60家激光仪器供应商是活跃的,但只有很少公司生产它们的商品。
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泽西核动力-阿符科同位素公司正在设计一个浓缩铀工厂,它将包括该公司和劳伦斯·利弗莫尔实验室以及国立橡树岭实验室所发展的被认为最具特色的激光浓缩原子蒸汽工艺。据能源总部高级同位素分离学科主任哈伯曼(N. Haberman)说,长远目标是把原子蒸汽浓缩铀方面的各种方案汇集成一个完整的方案。
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亚表面缺陷的检测和去除对于提高光学元件的激光损伤阈值至关重要。结合全内反射显微技术和数字图像处理技术获得光学元件亚表面缺陷信息的新方法,利用显微镜系统的有限焦深,对亚表面缺陷沿深度方向扫描,可以获得不同离焦量下的散射图像,通过数字图像处理技术,建立缺陷散射图像清晰度评价值与离焦量的关系,通过清晰度曲线得到亚表面缺陷的深度位置及深度尺寸。模拟全内反射显微平台的成像过程,讨论微调焦过程中全内反射显微成
提出了一种基于圆环杆与平板连杆的二维正方晶格光子晶体结构, 讨论了绝对禁带的计算过程和各参数对绝对禁带宽度的影响.通过平面波展开法结合逐次逼近方法发现其最大绝对禁带相对值达到19.026%, 比采用圆柱杆和平板连杆结构的二维正方晶格光子晶体以及采用圆环杆但无连杆的二维正方晶格光子晶体的最大绝对禁带相对值分别提高10.181%和712.035 9%; 圆环杆的外径、圆环的相对厚度以及连杆的宽度都存在一个最佳值, 且连杆宽度对绝对禁带相对值的影响比较敏感.
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