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新生儿缺血缺氧性脑病(Hypoxie isehemie eneephalopathy，HIE)是围产期窘迫或出生后窒息所致脑部损伤，其病情危重、病死率高，是造成儿童伤残的主要原因之一。文献报道，HIE发生率为4.7％～8.9％，占新生儿死亡原因的33.5％。内皮素(ET)作为机体在严重缺氧、缺血等应激状态下的一种内源性致病因子，目前日益受到重视。本研究采用放射免疫法检测我院2001年3月～2008年3月80例HIE患儿血浆ET水平，以探讨新生儿HIE血浆ET水平与其严重程度的相关性情况，现将结果报道如下。
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