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本文在综合研究前人理论的基础上,提出用侧倾装置的 H 晶面法或多重因子晶面法,根据所测晶面的 X 线弹性常数来测定有织构的 TiC 渗层内三维宏观内应力及三维宏观加权平均内应力梯度分布和精确测定无应力的2θ<sub>0</sub>。本法可适用于测定各种渗层、涂层材料表面薄层内外的三维宏观内应力梯度分布。