论文部分内容阅读
配合高比特速率系统的光纤存储器
【出 处】
:
激光与光电子学进展
【发表日期】
:
1994年31期
其他文献
本文用EPR技术研究了含Fe~(3 )和Cr~(3 )离子的铝硅破璃的结构性质,从理论上分析了实验结果.并且用含有Fe~(3 )离子的多晶样品——莫来石的玻璃样品进行了实验比较,最终认为铝硅玻璃和莫来石中的Fe~(3 )离子附近的局部环境类似.
期刊
Systematic study of spatiotemporal influences on temporal contrast in the focal region in large-aper
Temporal contrast is one of the crucial physical determinants which guarantee the successful performance of laser–matter interaction experiments. We generally reviewed the influences on the temporal contrast in three categories of noises based on the requ
Design and implementation of the galvanometer scanning system for reflectance confocal and stimulate
We report on two strategies to design and implement the galvanometer-based laser-scanning mechanisms for the realization of reflectance confocal microscopy (RCM) and stimulated Raman scattering (SRS) microscopy systems. The RCM system uses a resonant galv
A novel approach to generate and distribute ultra-wideband (UWB) pulses in optical domain is investigated. In this proposed scheme, a dual-electrode Mach-Zehnder modulator (DE-MZM) is biased at its quadrature point so as to realize the linear response. Th
采用提拉法成功生长出了高光学质量的Tm,Ho:LuAG(Lu3Al5O12)激光晶体,对其光谱性能进行了研究。测量了晶体320~3000 nm范围内的吸收光谱,在784 nm附近有较宽的吸收带,半峰全宽约为12 nm。用784 nm半导体激光器(LD)作激发源,测量了晶体2800~3000 nm范围内的稳态荧光光谱,并用光参量振荡(OPO)脉冲激光激发,测量了晶体的瞬态荧光光谱,对数据曲线进行指数衰减拟合,获得了晶体2.9 μm附近波长激光上下能级5I6和5I7的寿命,分别为51 μs和7.5 ms。与T
本文采用超声分子束技术,分别在308nm和355nm的紫外激光下,对环氧乙烷分子进行了多光子电离飞行时间(TOF)质谱研究.在308nm激光作用时,观测到C2H4O 、C2H3O 、CHO 和CH3 等离子的信号;在355nm激光作用时,则没有观测到分子离子的信号.在两种激光作用下最强的信号都是CHO .但是两种激光下各碎片离子信号的光强指数有一定差别,表明在两种情形下,环氧乙烷分子经历了不同的电离解离过程.
提出一种基于高置信度模型更新策略的多相关滤波器协同跟踪算法。利用卷积网络结构VGG-Net-19提取目标周围区域的多层卷积特征,构造深度滤波器,以自适应的特征融合策略实现目标初定位;建立尺度滤波器以检测目标的尺寸变化;利用主次峰坡度比作为跟踪置信度指标,设计一种高置信度下的模型更新策略;当跟踪置信度不足时,通过EdgeBox方法提取目标候选区域,利用设计的重检测滤波器,确定目标的最终位置。在标准数
为解决移相干涉仪(PSI)测量平板类光学元件面形过程中产生多表面干涉条纹混叠的问题,介绍了基于波长移相的多表面干涉条纹分析方法的基本原理。对三表面干涉测量进行仿真分析,通过对随时间变化的干涉图进行傅里叶变换,提取相应频谱级次的相位,可求得前后表面面形分布。比较了不同取样帧数及不同干涉光频谱变化范围下的误差最大值与方差的变化。与原始仿真面形比较,在理想情况下,该方法测得面形误差优于10-4λ。采用该方法对一实验元件的三表面干涉图进行分析计算,并与Zygo干涉仪测量值比较,结果表明,元件面形峰谷值(PV)与均