半微量硅酸盐地质样品的X射线荧光光谱分析

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利用X射线荧光光谱分析硅酸盐地质样品,取样的重量通常要几百毫克(一般情况下400—1000毫克)。但是在某些情况下,由于没有足够数量的样品用于通常的X射线荧光分析,因此必须利用某些特殊的方法。在这些特殊的方法中,除了使用X射线荧光探针法之外(Rose等,1969),通常采用各种薄样法。其中最简便的方法是将磨细的样品粉末,均匀地 Silicate geological samples are analyzed by X-ray fluorescence spectroscopy, and the weight of the sample is usually several hundred milligrams (typically 400-1000 milligrams). However, in some cases, special methods must be used because there is not a sufficient number of samples for normal X-ray fluorescence analysis. Among these special methods, in addition to using the X-ray fluorescence probe method (Rose et al., 1969), various thin-film methods are commonly used. The easiest way is to grind the sample powder evenly
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