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实验评估了“混沌”在商业化IC实现工具Dc应用中的特性表现。方法是故意输入原本可以忽略不计的输入参数(自变量)扰动,记录与观察输出参数(因变量)质量的差异。统计实验结果,寻找输入自变量及输出因变量之间的非线性联系。基本结果是典型混沌现象的数量关系有如最坏的时序余量WNS(ns)与时钟微扰ClockCycleNoise(ps)显现非线性函数关系(存在劣解或优值);关键结论是小输入扰动下在DE中运行同一电路多批(大于等于3),方便得到高质量的解决方案(基于TSMC65nm工艺)。