SiTi1—xSbxO3透明导电薄膜的光电子能谱研究

来源 :北京同步辐射装置年报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fenglingxing
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我们用XPS和同步辐射技术研究了钙钛矿型氧化物SrTi1-xSbxO3(x=0,0.05,0.10,0.15,0.20)薄膜的电子结构。该薄膜系列在可见光波段透明,其透过率均超过90%。所有掺杂薄膜均导电。同步辐射电子能谱研究结果表明该薄膜中来自Sb杂质的退局域化电子在母化合物的禁带中引入了杂质能级。这是导电性的根源,价带中很小的电子态密度限制了跃迁几率。大的禁带宽度和小的跃迁几率是光学透明性的原因。
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