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采用粉末压片制样，X-射线荧光光谱法直接测定钴结壳中Fe、Mn、Co、Ni、Si、Al、Ca、K、Na、Ti、P、Mg、Cu、Pb、Mo、Sr、V、Zn、Zr、Y、Ba等元素。重点讨论用熔融法定值部分样品，然后用加以定值的钴结壳标准及样品、国家岩石、土壤、水系沉积物系列标准用粉末压片制样，做工作曲线，一次测量钴结壳中二十余种元素，并用定值样品做精密度与准确度试验，各元素统计结果为RSD％（n=12）除V的RSD〈4％外，其余元素的RSD均小于2％，测定结果与标准值和ICP-MS测量值相符。