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采用高光谱成像技术(400～1 000 nm)对苹果轻微损伤进行快速识别及无损检测。采集苹果正常及不同损伤时间的高光谱图像,选择图像中合适的区域作为感兴趣区域并提取平均光谱反射率及图像熵信息,将采集的样本按2∶1的比例分为训练集和测试集。使用RELIEF算法基于光谱平均反射率及图像熵信息提取了8个特征波段(17、30、35、51、61、66、94和120),分别基于全波段和特征波段进行极限学习机(extreme learning machine, ELM)建模分析,并与支持向量机(support v