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利用光学干涉法对晶体生长过程中所引起的溶液折射率微小变化进行监测，分析所采集到的干涉图像，可得出与光程差相关的溶液浓度场及温度场的精确分布、晶体微观形貌变化及溶液对流等信息，对晶体生长机理研究有重要的意义。回顾了干涉技术测量晶体生长参数的基本原理，同时综述了近年来干涉技术在晶体生长研究中的应用及发现，并分析了该技术在晶体生长研究领域中的发展方向。