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高压下的电学性质测量是获得材料物理性质的有效手段。利用集成在金刚石对顶砧上的薄膜微电路，测量了高压下Fe3O4/β-CD（β-糊精）的电导率，并分析了电导率随压力的变化关系。在0～39.9 GPa范围内，Fe3O4/β-CD的电导率随压力的增加而逐渐增大，并呈半导体的特征；而在17.0 GPa处其电导率发生突变，表明样品发生了高压相变。在卸压过程中，电导率随压力的变化呈线性关系，并且卸压后样品的电导率不能回到最初的状态，推测这是一个不可逆的高压结构相变。