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利用荧光X射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了厚度为3-105 nm范围的分子束外延生长的Pt金属薄膜的局域结构.结果表明,30nm和105 nmPt薄膜的XAFS结果与多晶Pt箔的相似,在径向结构函数图中的2.61、3.80、4.63、5.43 A处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰,保持着Pt金属的面心立方结构特征.30nmPt薄膜样品的结构参数:配位数N=11.9,键长R=2.77A,无序度σ2=0.0055A2.3nrm和10nmPt超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与105nrm P