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从观测频谱资料出发表明谱极大两边的能谱指数在不同的模型中不同的结果。在均匀的射电源模型下，光厚边的谱指数几乎与电子能谱指数无关。从而光薄边的谱指数得到的电子能谱指数δＲ远小于Ｘ射线的δＸ。因此均均源模型下两者的能谱指数是不同的。在使用非均匀源模型是，无论是从光厚边还是从光薄边的谱指数。得到的电子谱指数都是等同于Ｘ射线的即δＲ＝δＸ。这从能谱指数的角度上，从实测论证了非均匀射电源的参数；表征磁梯度的