【摘 要】
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采用提拉法生长了直径为136 mm的Nd3＋：GGG单晶,通过X射线衍射和X射线荧光对晶体的结构、成分沿生长方向和径向的变化进行了测试分析。结果表明单胞晶格参数沿晶体的生长方向和
【机 构】
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中国科学院安徽光学精密机械研究所安徽省光子器件与材料重点实验室,中国科学院研究生院
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采用提拉法生长了直径为136 mm的Nd3＋：GGG单晶,通过X射线衍射和X射线荧光对晶体的结构、成分沿生长方向和径向的变化进行了测试分析。结果表明单胞晶格参数沿晶体的生长方向和径向均逐步变大,平均变化率分别为3.1×10^-6/mm、1.3×10^-5/mm;沿着晶体的生长方向,Nd和Gd组分按指数函数规律逐步增加,而Ga组分则按高斯函数逐渐减小。沿晶体径向从内到外,Nd、Gd组分按线性规律逐渐增大,其变化率分别为0.0014 at%/mm、0.00924 at%/mm,Ga组分则按
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