【摘 要】
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本文以激光微区发射光谱分析仪和CCD光学多道分析仪组成分析系统,通过对样品多次采集和用数理统计法对数据进行处理,以SmII443.434nm为分析线,测定了Y2O2S:Sm3+长余辉材料中S
【机 构】
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河北大学物理科学与技术学院,河北大学物理科学与技术学院,河北大学物理科学与技术学院,河北大学物理科学与技术学院 河北保定071002,河北保定071002,河北保定071002,河北保定071002
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本文以激光微区发射光谱分析仪和CCD光学多道分析仪组成分析系统,通过对样品多次采集和用数理统计法对数据进行处理,以SmII443.434nm为分析线,测定了Y2O2S:Sm3+长余辉材料中Sm的含量。分析结果表明:分析谱线相对强度RSD为5.01%,定量分析相对标准偏差RSD为8.96%,分析结果的平均值为2.018%;与制备前材料的百分含量比较,采用共沉淀法制备Y2O2S:Sm3+长余辉材料中Sm百分含量明显增大。
In this paper, the laser micro-area emission spectrometer and CCD optical multi-channel analyzer component analysis system, through the collection of samples and mathematical statistics to deal with the data, with SmII443.434nm as the analysis line, measured Y2O2S: Sm3 + Afterglow material Sm content. The results showed that the relative standard deviation RSD was 5.01%, the relative standard deviation RSD was 8.96% and the average value was 2.018%. Compared with the pre-prepared materials, the co-precipitation method was used to prepare Y2O2S: The content of Sm in Sm3 + long afterglow material obviously increases.
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