目的 :评价DPP-Ⅳ抑制剂类口服降糖药A化合物的线粒体毒性,从而探讨A化合物的可能毒性机制。方法 :Hep G2细胞培养基中分别加入曲格列酮50~300μmol/L,培养24 h,或加入A化合物溶液100~300μmol/L,培养24 h,CCK8细胞计数法测定细胞存活率。Hep G2细胞培养基中分别加入曲格列酮100、200和225μmol/L培养24 h,或加入A化合物溶液100、150和200μmol/L培养24 h,化学发光法检测胞内ATP合成水平,荧光探针法检测胞内钙离子浓度、活性氧、线粒体膜电位(△Ψm)变化,透射电镜观察线粒体超微结构。结果:与溶媒对照组相比,曲格列酮50~300μmol/L可以抑制细胞存活率,IC50为178μmol/L;A化合物100~300μmol/L对细胞存活率有抑制作用,IC50为159μmol/L。与溶媒对照组相比,曲格列酮≥200μmol/L时导致线粒体ATP显著下降(P<0.01)、△Ψm显著性下降(P<0.01),≥100μmol/L时可致活性氧水平和钙离子浓度显著升高(P<0.05或P<0.01)。A化合物≥100μmol/L时ATP合成水平显著降低、钙离子浓度显著升高(P<0.01),≥150μmol/L时活性氧水平明显升高(P<0.01),≥200μmol/L时△Ψm显著性下降(P<0.05),并可导致线粒体结构发生病变。结论:DPP-Ⅳ抑制剂类口服降糖药A化合物可以通过干扰线粒体代谢功能和结构而诱导线粒体损伤。