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检验一台仪器仪表的质量好坏,当然有赖于性能测试,实际应用和时间的考验。本文借用模糊数学中的综合评判提出一种改进的数量化的评比方法。它较之过去常见的评比鉴定要合理科学得多,且全部计算可在编程后由计算机来完成,並给出最终仲裁。从而可以避免少数人说了算或靠请客送礼奏效的弊端。文中提出了评定模型,以测量磁层厚度的X-荧光测厚仪的考核作为一个例子加以说明,並对其中某些计算方法进行了讨论。