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针对结构阻尼的测量，通过分析平板的辐射声压，发现结构自由振动时的声压级的衰减率与平板的振动水平的衰减率相等。基于此提出了通过测量结构自由振动时的声衰减时间来计算结构损耗因子的测量方法，采用该方法及传统的测量方法测量得到的结构损耗因子在整个测试频率范围内基本相等。分析及实验结果表明，该方法正确可行，并且可实现结构阻尼的非接触测量。