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TFT-LCD MURA缺陷具有背景整体亮度不均、灰度变化不明显等特点,用基于机器视觉的方法从TFT-LCD图像中分割出缺陷是非常困难的.本文提出一种新的MURA缺陷检测方法,首先在分析TFT-LCD图像中背景与MURA缺陷灰度值差异的基础上,采用均值滤波和背景差分法来抑制背景杂波,然后采用灰度约束获取疑似MURA缺陷区域,最后提取疑似区域灰度特征并将其放入训练后的BP神经网络提取缺陷目标.结果显示,本文方法正确检测概率为98.1%,误检率为1.4%,平均检测时间为0.33秒.仿真实验结果表明,本文