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采用激光散射层析术及 X 射线形貌术研究了 KDP(KH_2PO_4)晶体中散射颗粒及位错等缺陷的形成机理。作者采用微分干涉衬差显微镜(DICM)装置、通过录相放大系统观察研究了晶体生长过程中有机和无机固态包杂物的成因。
KDP晶体缺陷形成机理的研究
【摘 要】
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采用激光散射层析术及 X 射线形貌术研究了 KDP(KH_2PO_4)晶体中散射颗粒及位错等缺陷的形成机理。作者采用微分干涉衬差显微镜(DICM)装置、通过录相放大系统观察研究了晶体
【机 构】
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中国科学院福建物质结构研究所,RIMLABofSOLIDSTATECHEMISTRY.UNIVERSITYofNYMEGEN.HOLLAND
【出 处】
：
无机材料学报
【发表日期】
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1989年2期
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