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通过还原法制备不同浸镀时间的Galfan合金镀层样品，用SEM观察镀层的微观形貌，根据扫描图片测量界面层的厚度，拟合界面层厚度与时间的函数关系．实验结果表明，随着浸镀时间的延长，镀层的共晶组织越来越致密和均匀，界面层的厚度有增长的趋势．最后得出了界面层生长过程中形核阶段动力学方程和长大阶段的动力学方程．