基于激光双测头的印铁涂层湿膜厚度测量评估系统设计

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为满足工业印铁涂层厚度高精度测量需求,基于激光测厚技术,结合机械伺服装置研制了一种非接触、高精度的印铁涂层湿膜厚度测量评估系统。设定激光双测头工作在线性度误差较小的中心范围内,采用激光双测头对印铁表面测量区域的湿膜厚度进行差分测量,根据这些测量值拟合整个金属薄板表面的涂层厚度情况。详细介绍了系统的硬件及软件设计,并对系统进行了精度实验。结果表明系统可以对印铁湿膜厚度进行检测,测量精度达±3.72μm,同时可快速拟合膜厚三维曲面图形,实现湿膜厚度均匀性评估。
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