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目的探讨磁敏感加权成像(SWI)在弥漫性轴索损伤(DAI)患者中的应用价值。方法对20例中重度弥漫性轴索损伤患者(GCS评分<13分)行CT平扫、常规MRI(T2WI、FLAIR)和SWI检查,观察不同检查序列检出的病灶数目。所有患者常规进行脑损伤后3个月GOS评分。结果 SWI成像对20例轴索损伤患者检出399个病灶,SWI检出的微出血数目明显高于MRI常规序列。结论 SWI能够发现更多的微出血灶,对病情判断及预后判定有重要价值。