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2600系列SourceMeter数字源表的两款新产品2635和2636，采用最新特殊参数分析技术，实现了高达1fa（10-15安）的测量分辨率，从而满足了很多半导体、光电和纳米器件的测试需求。其基于仪器的多通道架构相比普通的基于主机的源测量方案降低了50％的成本。2636和2635具有廉价的扩展性和更短的测试时间。通过其测试脚本处理器（TSP）和TSP-Link互连通信总线，